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炬光科技:晶圆级V型槽已进入规模制造,96通道累计节距误差控制在±0.5μm内
专访炬光科技:高通道FAU时代来临,晶圆级V型槽技术破解规模制造难题
AI 导读
炬光科技副总裁田勇在光纤在线专访中表示,公司晶圆级同步结构化V型槽产品已从技术验证进入订单增长和规模制造阶段,96通道产品首根至末根光纤累计节距误差可控制在±0.5μm以内。公司已获得数百万只高通道V型槽阵列订单,建成月产数十万只的制造能力,并推出支持最大128通道、测量重复性3σ<0.1μm的节距误差测量系统。
深度导读
光纤在线对西安炬光科技副总裁、激光光学事业部副总经理田勇进行专访,主题是高通道FAU时代晶圆级同步结构化V型槽技术的工艺、量产与验证体系。
技术原理上,传统机械切割V型槽采用单槽顺序加工,精度受刀具损耗、跳刀精度、温湿度和振动影响;炬光科技的做法是在同一晶圆上同步定义并形成全部光纤定位结构,从工艺原理上避免顺序加工的累积误差。公司称已实现36、48、96通道及更高通道数产品,96通道条件下首根至末根光纤累计节距误差控制在±0.5μm以内,支持60°、90°及定制化V型槽角度,并可在同一产品中实现不同光纤间距、高度以及V型槽、U型槽、凹面凸面定位、堆叠定位等结构。
量产与订单方面,公司表示高通道V型槽已从前期技术验证逐步进入订单增长和规模制造阶段,客户来自FAU、NPO/CPO及其他高密度光互联领域,部分项目完成批量验证并进入持续交付;已获得数百万只高通道V型槽阵列订单,建立月产数十万只的制造能力,可根据客户需求快速扩产。核心制造装备由公司自主开发。同一晶圆级同步结构化平台制造的FAC快轴准直器累计出货超过1.5亿只,平台已历经30余年验证。
检测环节,公司在CIOE推出V-Groove/FAU节距误差测量系统,可测V型槽、FAU及MT连接器。典型配置下支持V型槽和FAU最小40μm节距、最大128通道,MT连接器最小检测节距250μm;测量重复性3σ<0.1μm,分辨率0.001μm,单通道测量周期小于1秒,具备自动对焦、自动测量、倾斜补偿和自动报告输出。公司称开发初衷是内部质量控制,因现有设备难以评价亚微米级新工艺产品,后延伸至客户IQC来料检测和FAU组装后测量。
业务与市场判断方面,田勇称2026年上半年公司光通信业务收入同比增长215%,业务从客户验证进入订单增长和规模制造阶段。公司上月披露定增预案,拟募集资金约10.21亿元加大光通信布局。产品布局覆盖预制金锡氮化铝衬底材料、单透镜、微透镜阵列、双锥透镜、快慢轴一体化透镜、NxN大尺寸微透镜阵列、微棱镜透镜阵列、高通道密度V型槽阵列及高精度耦合与测试装备。田勇认为高通道化、被动对准和自动化装配是光互联产业的三个方向,V型槽正从标准化基础器件演变为影响下一代光互联性能、良率和成本的基础平台,行业竞争将从单一器件性能转向设计、制造、检测和量产验证的完整工程能力。
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