电科思仪发布3674QB与3673系列矢量网络分析仪，覆盖448G研发与224G产线测试

电科思仪10月26日举行主题为“应时代之需，为高速智联而生”的新产品发布会，正式发布3674QB 145GHz同轴矢量网络分析仪、3673系列矢量网络分析仪，并现场展出面向行业的PCB测试解决方案。三类产品分别对应448G前沿研发、224G产线批量测试和PCB信号完整性测试，构成从实验室研发验证到产线批量测试的测试链条。 3674QB是本次发布的高端旗舰产品，面向448G高速互联研发测试，实现10MHz～145GHz同轴一体化连续覆盖。原文称448G PAM4串行信号速率（波特率）达到112GB，更高频段的谐振尖峰、阻抗不连续点和串扰频点需要更高频段覆盖，145GHz连续覆盖用于补上这段余量，一台设备即可完成光电芯片接口、PCB高速走线、高速铜缆组件等全频段S参数测试。性能上，该产品在145GHz毫米波频段实现105dB系统动态范围，最优系统动态范围达135dB；功率扫描范围典型指标为-50dBm至0dB，145GHz频点实际测试覆盖-60dBm至+2dB。配套加固型0.8mm同轴接头、0.8mm同轴校准件、稳幅稳相电缆、宽带探针和精密转接器。 3673系列面向AI高速互联产线批量测试，共包含8款型号，覆盖100kHz～67GHz。该系列最高实现160dB超大动态范围，较上代产品提升15dB；功率扫描范围典型值-60dBm～+20dBm，最优可达-80dBm～+23dBm，搭配程控步进衰减器可扩展至-120dBm～+20dBm；迹线噪声低至0.0007dB rms。功能上支持眼图分析、增益压缩、程控步进衰减器等选件，单台仪器可覆盖无源器件、有源放大器、高速互连通道等场景。该系列采用高性能DDS直接数字频率合成架构，扫描速度提升高达4倍，面向224G产线大批量测试可摊薄单样测试工时成本。 PCB测试解决方案覆盖插损测试与阻抗测试，最高频率可至145GHz。插损手动测试支持Delta-L 4.0、Dk/Df及表面粗糙度提取，支持PCB载板探针台测试；阻抗手动测试支持实时阻抗数据测试，阻抗偏差控制在±1%以内；阻抗自动测试实现2.4秒扎针速度，双组探头支持单端与差分同步测试，微牛级力度调控无痕率90%以上，适配HDI板精密测试。 原文提到，高端矢量网络分析仪长期被海外厂商占据，国产高端测试仪器的自主突破成为产业链命题；电科思仪称拥有超过30年矢量网络分析仪研发积淀，已形成高端、中档、经济型、模块化四大产品系列。发布会后，系列新产品将于10月27日至29日在2026电子半导体产业创新发展大会暨国际电子电路（大湾区）展览会（CPCA Show Plus 2026）展出。