西门子EDA将Tessent IST纳入电压感知可观测性演示
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西门子EDA将Tessent IST纳入电压感知可观测性演示
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AI 综述
西门子EDA宣布，在基于Veloce proFPGA的物理与功能监测演示中加入Tessent In-System Test（IST）。该演示把IST结构测试的执行起止时间与Movellus Aeonic Insight电压跌落传感器、Tessent Embedded Analytics功能监控数据对齐到同一时间线，西门子称这已建立端到端概念验证。 西门子表示，下一步是通过iJTAG完成对传感器的直接访问，使测试控制、传感器可观测性与功能遥测能在已部署系统中协同。
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最新进展10月29日 15:05
西门子 Tessent 将 In-System Test 纳入电压感知可观测性演示报道时间线
沿着报道，了解事件的不同侧面。
10月29日
- Semiconductor Engineering西门子 Tessent 将 In-System Test 纳入电压感知可观测性演示
西门子 Tessent 在 Veloce proFPGA 演示中把 In-System Test（IST）与 Movellus Aeonic Insight 电压跌落传感器、Tessent Embedded Analytics 功能监控整合，将结构测试执行与电压、功能数据对齐到同一时间线。
本事件热度走势
还没有足够的连续观测数据，暂不绘制趋势。